Wiese, M. ; Schill, F. ; Sturm, D. [P:(DE-He78)a46a5b2a871859c8e2d63d2f8c666807] ; Pfister, S. [P:(DE-He78)f746aa965c4e1af518b016de3aaff5d9] ; Hulleman, E. ; Johnsen, S. A. ; Kramm, C. M.